Участие в конференции СТОЙКОСТЬ – 2026
Представители АО «НИИ КП» приняли участие во Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем» («СТОЙКОСТЬ»), которая проходила с 02 по 03 июня 2026 года в г. Москве.
«СТОЙКОСТЬ» ежегодно организуется АО «НИИП» и является крупнейшей в области радиационной стойкости. Мероприятие проводилось на базе АО «ВНИИАЭС», что придало конференции особую атмосферу.
Участие в конференции СТОЙКОСТЬ – 2026 позволило АО «НИИ КП» подтвердить статус одной из ведущих научных организаций в России в области радиационной стойкости.
Сотрудники АО «НИИ КП» представили 4 устных и 16 стендовых докладов. В этом году программному комитету удалось отобрать наиболее актуальные доклады, комплексно отражающие ландшафт исследований в области радиационной стойкости в нашей стране.
Тематика докладов АО «НИИ КП» представлена ниже:
- Особенности оценки соответствия ЭКБ для космической техники требованиям по стойкости к воздействию ИИ КП;
- Формирование модели ВВФ ИИ КП на ЭКБ из состава бортовой аппаратуры;
- Испытательная камера для бустерного вывода синхротронного комплекса испытаний;
- Автоматизированная система управления оборудованием испытательной камеры для бустерного вывода синхротронного комплекса испытаний;
- Комплекс контроля характеристик тяжелых ионов для бустерного вывода синхротронного комплекса испытаний;
- Комплекс контроля характеристик протонов для бустерного вывода синхротронного комплекса испытаний;
- Анализ вариантов уточнения результатов испытаний за счет облучения ионом с малыми линейными потерями энергии;
- Методические рекомендации по испытаниям ПЛИС на воздействие ионизирующих излучений космического пространства;
- Алгоритм проведения и обобщенные результаты испытаний приемопередатчиков на воздействие ионизирующего излучения космического пространства;
- Исследование катастрофического отказа в операционных усилителях на биполярных транзисторах при воздействии тяжелых заряженных частиц космического пространства;
- Влияние способа декорпусирования на электрические параметры ЭКБ при подготовке к проведению испытаний;
- Влияние гамма-квантов на омическое сопротивление светодиодов на основе AlGaInP (λ=590 нм);
- Практическое применение баз данных радиационных испытаний для аналитической оценки стойкости аппаратуры;
- Оптимизация расчета дегрейдеров для испытания на воздействие ТЗЧ с применением программного комплекса SRIM;
- Разработка автоматизированной системы вакуумирования для стенда испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ;
- Устройство задания температурных режимов объектов радиационных испытаний на базе термоэлектрических модулей;